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寬溫域芯片測試：GD 系列老化測試箱解析

2026 年 5 月 18 日 86

冠亞恒溫小編為大家解析 GD 系列老化測試箱的寬溫域芯片測試能力。半導(dǎo)體芯片在實(shí)際使用中可能面臨從低溫到高溫的寬溫域環(huán)境，GD 系列設(shè)備通過不同型號的溫度區(qū)間配置，覆蓋常溫至 + 150℃、-20℃至 + 150℃、-40℃至 + 150℃三個溫度范圍，適配不同芯片的寬溫域測試需求。

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