AES系列射流式高低溫沖擊測試機在電子元器件可靠性評估中的作用
40電子元器件在不同溫度條件下可能出現(xiàn)參數(shù)漂移、連接異常、封裝應(yīng)力變化和功能不穩(wěn)定等現(xiàn)象。無錫冠亞AES系列射流式高低溫沖擊測試機可為電子元器件提供-120℃?+300℃的快速溫度環(huán)境,并通過±0.1℃控溫精度和被測對象溫度反饋,提高測試過程的可控性。本文圍繞電子元器...
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電子元器件在不同溫度條件下可能出現(xiàn)參數(shù)漂移、連接異常、封裝應(yīng)力變化和功能不穩(wěn)定等現(xiàn)象。無錫冠亞AES系列射流式高低溫沖擊測試機可為電子元器件提供-120℃?+300℃的快速溫度環(huán)境,并通過±0.1℃控溫精度和被測對象溫度反饋,提高測試過程的可控性。本文圍繞電子元器...
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