芯⽚⽼化测试箱是⼀款专⻔⽤于模拟芯⽚在ji端环境下⼯作状态的设备，通过jing确控制温度、湿度等环境参数，模拟芯⽚在实际使⽤中可能遇到的⾼温、⾼湿、⾼应⼒等ji端条件，加速芯⽚的⽼化过程，通过这种⽅式，可以在短时间内筛选出早期失效的芯⽚，优化设计⽅案，提升产品良率，确保芯⽚在⻓期使⽤中的稳定性和可靠性。

双层高低温箱用于爆炸性样品的高低温测试装置，目前主要应用于新能源电池行业，可以直接为电池电芯或模组、PACK在试验箱内完成高低温充放电，或者高低温存储等功能，在测试电池失效时的条件下增加了防爆泄压及消防失火装置。

设计特点：1、采用上下双层箱体设计，箱体内含防冻液电池冷却系统，两箱体的控制及测试系统完全独立运行；2、箱体门及泄压口均加装防爆链；3、箱内采用全不锈钢满焊设计，可以满足消防水0.5m储存需求；4、箱体保温层设计有100mm厚，采用导热系数低的保温材料及耐高温材料组成，能满足-40度到100度长时间高低温冲击需求；

本试验箱适用于环境应力筛选试验，通过对产品进行环境应力筛选，加速发现产品的设计缺陷，提高产品的可靠度。很多工业领域都已经认识到，高速温度变化循环试验可以找出已经进入生产测试阶段的不可靠的系统。它已经作为改进质量的一种标准方法，有效延长产品的正常工作寿命。
 

本电池试验箱是专门针对不同种类的动力电池测试需要，在标准环境箱的基础上，根据不同的严酷等级配备安全防护功能，zui大程度保证人员，财产及设备的安全。
 

两箱式冷热冲击试验箱在进行高低温冲击试验时测试篮是移动的，主要是靠测试篮在高温区和低温区中上下移动来完成高低温冲击转换，两箱式比三箱式的冲击回复时间更短。

本试验箱适用于整机或大型零部件的低温、高温、高低温变化、恒定湿热、高低温交变湿热等试验。可根据用户要求改变工作室尺寸与功能，采用拼块式箱体，造型美观大方，科学的风道设计，能满足不同客户的需求。

本系列试验箱可以模拟各种温湿度环境，适用于对产品进行高低温试验，湿热试验等。本试验箱具有ji宽的温湿度范围和ji高的控制精度。可以满足国家标准GB及IEC相关测试标准。可程式恒温恒湿试验箱用于试验各种材料耐热、耐寒、耐干、耐湿性能。适合电子、电器、通讯、仪表、车辆、塑胶制品、金属、食品、化学、建材、医疗、航天等制品检测质量之用。